Samsung đã mở một phòng thí nghiệm quy mô lớn tại Gumi, Hàn Quốc để kiểm tra độ an toàn của các sản phẩm do công ty sản xuất. Như một phần của quy trình kiểm tra an toàn 8 bước mới, Samsung sẽ tiến hành các cuộc kiểm tra pin thường xuyên hơn, bao gồm các thử nghiệm sạc quá mức, thử nghiệm chọc thủng và thử nghiệm với áp lực nhiệt độ cực cao.

Vào sáng sớm nay, Samsung đã tuyên bố 2 nguyên nhân khiến chiếc Galaxy Note 7 gặp phải sự cố. Lỗi đầu tiên được phát hiện trên những viên pin của Samsung SDI. Những viên pin này có một lỗi thiết kế nằm ở góc trên bên phải, có thể dẫn đến đoản mạch. Thiết kế của viên pin này cũng quá lớn so với khoảng trống bên trong của Note 7, đặc biệt là Note 7 lại có thiết kế màn hình cong. Thiết kế này khiến các điện cực cũng bị bẻ cong và dễ tiếp xúc với nhau gây đoản mạch. Lỗi thứ hai do nhà sản xuất Amperex Technology và liên quan đến dây chuyền sản xuất. Samsung phát hiện thấy một lỗi sản xuất trong mối hàn của những viên pin. Cụ thể là các mối hàn này vẫn còn hở và là nguyên nhân khiến những viên pin dễ bốc cháy. Ngoài 2 nguyên nhân liên quan đến pin, Samsung khẳng định không có phần mềm hay thiết kế phần cứng nào khác của Note7 gây cháy nổ. Do đó, những chiếc smartphone tiếp theo của Samsung chắc chắn không lặp lại sự cố như Note7.